연구장비 Equipment
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담당자
김덕
장비문의
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duckim96@gwtp.or.kr
파장 분산형 X-선 형광분석기
Wavelength dispersive X-ray Fluorescence Spectrome
| 기관명 | (재)강원테크노파크 원료산업지원센터 |
|---|---|
| 모델명 | ZSX PRIMUS IV |
| 용도 | 분석 |
| 분류 | 기타 |
| 연관검색어 | XRF,X선 |
| 제조사(국가) | Riguku(일본) |
| 식별번호 | NFEC-2018-10-246757 1810-B-0121 |
|---|---|
| 장비설명 | "○ X선을 시료에 조사하여 2차적으로 발생하는 특성 X선을 이용하여 원소의 정성정량 분석 - 비파괴적 분석으로 일반적인 재료 평가에 있어 원소 조성 조사를 위한 필수적 분석법로 사용되고 있음 - 세라믹, 철강 및 비철금속, 시멘트, 지질, 폴리머, 박막, 석유화학 등 각종 원료의 다양한 시료 및 제품에 적용 - 원소별 분석 스펙트럼을 통한 미지 시료의 정성 및 정량 분석 - 간단한 시료 전처리 및 반복 측정을 통한 재현성과 정밀도 검증 - 단시간에 시료 전처리가 가능하고 신속한 측정에 용이하며 작동법이 간단 - Boron~Uranium 까지 모든 원소의 분석이 가능하여 공정관리 및 연구개발에 이용 - 일반적인 재료 평가에 있어서 원소의 조성을 조사하기 위한 필수적인 분석법으로 사용 - WDXRF(Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer)는 EDXRF(Energy Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer)보다 Peak 분해능이 우수하고 EDXRF보다 분석결과가 뛰어나 학교와 산업계의 분석 수요 증가 예상 - 원재료의 조성이나 금속, 화합물, 복합재료 등의 조성평가에 이용되며, 공정관리, 재료개발, 제조품 검사 등 다양한 분야의 산업현장에서 XRF 분석이 주류를 이루고 있음" |
| 원리 및 특성 | "- 4 kW X-ray Generator (60 kV, 150 mA 이상) - End-window type X-ray tube - Rh target with Be window - Detector system : F-PC, SC-HS - Automatic collimator changer (4-position) - Crystal : LiF200, PETH, GeH, RX-2, LiF220, crystal for Carbon - XRF2 Mapping system - Sample holder up to 20 ea - Sample preparation system : XRFuse2 - Gas supply, P-10, Cylinder & Regulator, Chiller" |
| 사용방법 | 기관의뢰 |
| 관련자료 | - |