연구장비 Equipment
이용가능
담당자
김진호
장비문의
0335706781
pooh@kangwon.ac.kr
엑스선 형광분석기(4kW)
Sequential X-ray Fluorescence Spectrometer(4kW)
| 기관명 | 강원대학교 삼척공동실험실습관 |
|---|---|
| 모델명 | ZSX-PrimusIV |
| 용도 | 분석 |
| 분류 | 분석장비 |
| 연관검색어 | XRF,엑스 |
| 제조사(국가) | Rigaku(Japan) |
| 식별번호 | |
|---|---|
| 장비설명 | 형광 X-선은 각 원소 고유의 에너지를 갖고 일정 파장으로 나타나는데 분광계에 의해 각각의 파장을 분리하여 각도에 따른 강도를 측정함으로써 정성 및 정량분석을 한다. 고체, 액체 및 Power시료의 분석에 이용되고, 비파괴분석으로서 표준시료 비교법에 의해 정량분석한다. 원소별로 4Be- 96Cm까지 정성 및 정량분석이 가능하고 ppm ~ 100% 함량 범위의 측정이 가능하다. |
| 원리 및 특성 | 1) X-ray generator (1) Control : Computer controlled (2) Voltage range : 20 to 60 KV (1kV step) (3) Current range : 5 to 150 mA (1mA step) (4) Max. load : 4KW (5) Solid state generator (6) X-ray tube type : End-window type Rh target 2) nalysis element range : 4Be to 96Cm 3)Analyzing crystal ① K – Am : LiF(200) ② Al – Sc : Curved PETH ③ P – Sc : Curved GeH ④ O - Mg : RX26 ⑤ Crystal for B : RX85 ⑥ Crystal for C : RX61F ⑦ Crystal for N : RX45 ⑧ Crystal for O : RX40 4) Mapping system(r-theta stage and CCD camera) (1) Minimum step : 100um (2) Spot size : 0.5mm |
| 사용방법 | 기관의뢰 |
| 관련자료 | 문서 첨부 |