연구장비 Equipment
이용가능
담당자
최혜아
장비문의
0336552502
주사탐침현미경
Scanning Probe Microscope
| 기관명 | 강릉원주대학교 파인세라믹지역기술혁신센터 |
|---|---|
| 모델명 | SPA-400 |
| 용도 | 분석 |
| 분류 | 화합물전처리/분석장비 |
| 연관검색어 | 점탄성,마찰력,전하측정,Lithography,전기적특성측정 |
| 제조사(국가) | 일본 |
| 식별번호 | NFEC-2007-10-001057 0503-A-0014 |
|---|---|
| 장비설명 | 주사전자현미경(Scanning Probe Microscope)은 원자 분자 수준의 분해능을 갖는 표면 분석 장비로서 나논 특성 분석에 널리 활용되고 있으며 나노 기술 발전에 큰 이바지를 하였다. SPM은 캔틸레버에 부착된 나노 크기의 바늘이 시료 표면을 근접 접촉하여 시료와 탐침사이에 상호 작용하는 물리량을 측정한다. |
| 원리 및 특성 | 전자현미경과는 달리 SPM은 탐침과 시료사이의 원자력 터널링 전류 전자기력 등의 근접장을 검출하는 기술로 분석되어진다Resolution XY:0.2nm Z:0.01nm Sample Size D35mm×T10mm Scan Area 20㎛(standard) |
| 사용방법 | 기관의뢰 |
| 관련자료 | - |