연구장비 Equipment
이용가능
담당자
김태은
장비문의
0335706791
pooh@kangwon.ac.kr
주사탐침원자현미경
Scanning Probe Microscope
| 기관명 | 강원대학교 삼척공동실험실습관 |
|---|---|
| 모델명 | hpAFM System |
| 용도 | 분석 |
| 분류 | 분석장비 |
| 연관검색어 | SPM,주사탐침,원자현미 |
| 제조사(국가) | NanoMagnetics Instruments Ltd.(United Kingdom) |
| 식별번호 | |
|---|---|
| 장비설명 | 본 기기는 탐침(Tip)의 원자와 측정할 시료표면의 원자 사이 상호간에 작용하는 힘을 이용해 캔틸레버(Cantilever)를 휘게 하는 힘이 발생하고, 이 정보들을 귀환회로에 의해 정밀 제어하여 탐침이 각 지점(x, y)을 이동하면서 힘이 일정하게 유지되도록 하여 시료 표면의 삼차원 영상을 원자단위의 크기로 얻을 수 있도록 합니다. 또한 수직 위치를 고정하지 않고 조절할 수 있도록 함으로써 좀 더 정밀한 정보를 삼차원 영상화 하는데 이용되며 나노단위의 전기적, 자기적 특성 측정에 탁월한 기능을 가지고 있으며, High Resolution Fexure Piezo Design의 Closed Loop Scanner를 채택하여 다양한 용도의 Nano Technology 활용에 기능이 강화된 제품입니다. |
| 원리 및 특성 | (1) Resolution 1) Noise level RMS : 0.5 Å RMS or less 2) Vertical resolution : 0.1 Å or less 3) Lateral resolution : 1 Å or less (2) Scanner · XY Scan Range Options : 10μm / 100μm with 24 Bit Resolution · Z Scan Range Options : 5μm / 15μm with 24 Bit Resolution · 0.01nm resolution · XYZ Closed loop operation · Vacuum sample holder for up to 8“ wafers · Decoupled Z scanner ·Can hold samples up to 500 gr max. (3) Z Motorized Stage · 50mm range, 250nm resolution (4) XY Motorized Stage · 76mm range, 50nm resolution (5)Measurement Modes 1) Contact Mode 2) Dynamic Mode 3) Phase Imaging 4) Lateral Force Microscopy 5) F-D Spectroscopy 6) Lift Mode 7) Electrostatic Force Microscopy (EFM) 8) Magnetic Force Microscopy (MFM) 9) Kelvin Probe Force Microscopy(KPFM) 10) Conductive AFM (C-AFM) |
| 사용방법 | 기관의뢰 |
| 관련자료 | 문서 첨부 |