연구장비 Equipment
이용가능
담당자
연정미
장비문의
0334529713
yjjin@cpri.re.kr
열전도율분석기
Thermal Conductivity Instrument
| 기관명 | (재)철원플라즈마산업기술연구원 |
|---|---|
| 모델명 | LFA 447 |
| 용도 | 분석 |
| 분류 | 물리적측정장비 |
| 연관검색어 | |
| 제조사(국가) | 독일 |
| 식별번호 | NFEC-2013-01-173713 1207-D-0070 |
|---|---|
| 장비설명 | Xenon flash를 이용하여 시료의 한쪽 면에 열을 가하고 반대쪽으로 열이 전달되는 시간 및 강도를 이용하여 온도에 따른 sample의 열물성 즉 열 확산율을 측정하는 장비로서 수직 수평방향의 열물성을 측정할 수 있고 3D mapping software를 통해 측정한 열물성을 3차원적으로 표현하여 다층 구조 내부의 열확산율을 알 수 있음 |
| 원리 및 특성 | 1. Temp. range : ambient to 300°C 2. Alignment : vertical set-up with rectanguar design heater and holder3. Integrated sample changer : measure up to four samples in one test4. Diffusivity measuring range : 0.01 to 1000 mm2/s5. Conductivity measuring range : 0.01 to 2000 W/mK6. Thermal diffusivity repeatability : +/- 3% or better (for most sample)7. Specific repeatability : +/-5% or better (for most sample)8. Minimum sample thickness : 0.02 mm or thinner9. IR Source : Xenon Flash Lamp11. Wavelength : 150 … 2000 nm12. IR detector speed : 1 MHz13. Pulse energy : up to 10 Joules15. Data acquisition speed : 500kHz16. Device for detecting thermal conductivity by means of optical pulses17. Finite pulse width correction18. Simultaneous finite pulse heat loss correction19. Simultaneous finite pulse length correction20. heat loss and laser power corrected specific heat calibration21. In-Plane sample holder and software22. Number of samples : up to 423. 3D surface scanner MTX : Resolution : 0.1 mm24. MTX scanning range : 50 mm x 50 mm |
| 사용방법 | 기관의뢰 |
| 관련자료 | - |