주사전자현미경
이용가능
담당자 김동주
장비문의 0336402500
djkim@gwnu.ac.kr

주사전자현미경

Scanning electron microscope

기관명 강릉원주대학교 공동실험실습관
모델명 JSM-IT500
용도 분석
분류 화합물전처리/분석장비
연관검색어 sem,현미경,전자현미경
제조사(국가) 일본

이용금액

사용료 유형 시간당
이용료 20,000원
설치형태 고정
설치장소 212호 위치확인

장비설명

식별번호
장비설명 주사전자현미경(SEM)은 전자총에서 가속된 전자빔이 시편에 도달하여 발생되는 여러 전자 정보중 이차전자 및 반사전자를 검출하여 미소영역에 대한 상(최대배율 30만배) 관찰기능을 가지고 있을 뿐만 아니라 원소분석기능이 가능한 EDS가 장착되어 미세영역에 포함되어 있는 원소들에 대한 정성, 정량 분석을 할 수 있다.
원리 및 특성 Analytical Scanning Electron Microscope BU
Backscattered Electron Detector
Color Image Stage Navigation System
사용방법 직접사용
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