XRF 성분분석기
이용가능
담당자 김효규
장비문의 0337475415
khk4529@kitech.re.kr

XRF 성분분석기

X-ray Flourescence Spectrometry

기관명 한국생산기술연구원 원주뿌리기술지원센터
모델명 M4 Tornado
용도 분석
분류 화합물전처리/분석장비
연관검색어
제조사(국가) Bruker(미국)

이용금액

사용료 유형 시간당
이용료 50,000원
설치형태 고정
설치장소 한국생산기술연구원 원주뿌리기술지원센터 위치확인

장비설명

식별번호 NFEC-2019-09-257658 1908-B-0052
장비설명 "1. 이 시스템은 Na부터 U까지의 원소를 빠르고 정확하게 자동으로 측정하는 엑스선 형광 분석기임.
2. 이 시스템은 고상, 액상, 분말을 측정할 수 있는 분석기임.
3. 이 시스템은 샘플 스테이지와 맵핑 알고리즘을 이용하여 정밀한 원소맵을 측정할 수 있음.
4. 이 시스템은 샘플 이동, 측정 변수, 데이터 수집, 데이터 처리와 정량, 정성 분석에 대한 자동화 기능을 제공함.
5. 이 시스템은 정밀도와 성능을 유지하기 위해 표준 샘플과 보정 기능을 제공함."
원리 및 특성 "1. 엑스선 발생기 및 튜브 (X-ray Generator and Tube)
1) 최대전압 : 50kV
2) 최대전류 : 600㎂
3) 엑스선 Spot 크기 : 20㎛
4) 타겟 : Rh
5) 엑스선 빔 필터 : 8ea

2. 검출기(Detector)
1) 검출기 측정(Counting) 속도 : 400,000cps
2) 검출기 측정(Counting) 해상도 : 145eV
3) 검출기 수 : 1개

3. 캐필러리(Capillary)
1) 폴리캐필러리(Polycapillary) : Yes

4. 샘플 챔버 및 스테이지(Sample Chamber and Stage)
1) 챔버 크기 : 600X350X260 mm
2) 샘플 스테이지 해상도 : 4㎛
3) 샘플 스테이지 크기 : 330 x 170 mm
4) 맵핑 크기 : 190 x 160 mm 이상
5) 최대 샘플 무게 : 최대 5kg"
사용방법 기관의뢰
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