연구장비 Equipment
이용가능
담당자
김진호
장비문의
0335706781
pooh@kangwon.ac.kr
전계방사형주사전자현미경
FE-SEM(Field Emission Scanning Electron Microscope
| 기관명 | 강원대학교 삼척공동실험실습관 |
|---|---|
| 모델명 | JSM6701F |
| 용도 | 분석 |
| 분류 | 전기/전자장비 |
| 연관검색어 | |
| 제조사(국가) | Jeol |
| 식별번호 | |
|---|---|
| 장비설명 | 전자빔과 시료표면과 상호작용으로 이차전자(secondary electrons), back scattered electrons(반사전자), characteristic X-rays(특성 엑스선) 등 여러가지 신호가 발생한다. SEM은 이차전자와 반사전자를 검출함으로써 표면의 morphology 및 texture연구에 이용하며, EDS는 특성 엑스선을 검출하여 미세구조의 화학성분을 정성 또는 정량 분석에 이용 |
| 원리 및 특성 | Resolution : 1.0nm at 15keV -Magnicication : 15 ~ 650,000X -Image mode : SEI, BEI(COMP, TOPO) -Attachment : HR-EDS(OXFORD, X-MAX, 50mm2 |
| 사용방법 | |
| 관련자료 | - |