전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM)-I
이용가능
담당자 임준기
장비문의 0332507129
altnrdl@kangwon.ac.kr

전계방사형 주사전자현미경(FE-SEM)-I

Field Emission Scanning Electron Microscope-I

기관명 강원대학교 공동실험실습관
모델명 Hitachi S-4800
용도 분석
분류 화합물전처리/분석장비
연관검색어 FE-SEM-I
제조사(국가) Hitachi(Japan)

이용금액

사용료 유형
이용료 0원
설치형태
설치장소 미래관 111호 위치확인

장비설명

식별번호
장비설명 고전압은 물론 저전압(수kv)에서 고분해능이 가능하도록 설계가 된 기기로써 기존의 장비로 관찰이 어려웠던 polymer, bio물질, nanotube, nanoparticle등등을 시편에 손상을 거의 주지 않고 고배율 image 관찰이 가능하고 더불어 정성, 정량, mapping등의 EDS분석이 wide detector장착으로 빠른 기기이다.
원리 및 특성 "1) Resolution : 1.0nm(15kv), 1.4nm(1kv)
2) Acc. voltage: ∼30KV
3) Magnification: ∼X800,000
4) Energy Dispersive X-Ray Spectrometer(EDS)
ㆍQuantitative analysis
ㆍQualitative analysis
ㆍX-Ray Mapping
ㆍLine profile"
사용방법 기관의뢰
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