X선형광분광분석기
이용가능
담당자 이수형
장비문의 0332507133
altnrdl@kangwon.ac.kr

X선형광분광분석기

X-ray Fluorescence Spectrometry

기관명 강원대학교 공동실험실습관
모델명 ZSX Primus II
용도 분석
분류 화합물전처리/분석장비
연관검색어 XRF
제조사(국가) Rigaku(Japan)

이용금액

사용료 유형 시료당
이용료 0원
설치형태 고정
설치장소 미래관 108-1호 위치확인

장비설명

식별번호
장비설명 "진공 중에서 고속의 전자를 대음극에 충돌시킬 때 방출되는 일차 X-선을 시료에 조사하면 시료의 구성원소의 원자로부터 2차 X-선이라고 하는 전자파가 발생된다.
이 형광 X-선은 각 원소 고유의 에너지를 갖고 일정 파장으로 나타나는데 분광계에 의해 각각의 파장을 분리하여 각도에 따른 강도를 측정함으로써 정성 및 정량 한다. 고체, 액체 및 Power시료의 측정에 이용되고, 비파괴측정 방법으로 표준시료 비교법에 의해 정량한다.
컴퓨터 control에 의하여 Be4 - U92까지 정성 및 정량이 가능하고 ppm ~ 100% 함량 범위를 측정하며 금속, 비금속, Slag, 초경합금, MLCC, 석유화합물, 고분자 화합물, 유리, 요업재료 및 도금 층의 측정 등에 이용된다. "
원리 및 특성 4kW Power (60kV, 150mA)
사용방법 기관의뢰
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