연구장비
장비정보
분류 광학

장비명(한글) 전계방출 투과전자현미경
장비명(영문) Field Emission Transmission Electron Microscope
사용용도 분석 생산 시험
장비상태 정상 ○
모델명 JEM-2100F
제조관련 JEOL(일본) / 2011
내용연수 5년
구축일자 2011-06-30
구축금액 928865795
장비상세정보
장비사양 전계방출 투과전자현미경(FE--TEM)은 전자빔을 조사하여 시료의 표면, 단면 등을 고배율로 확대하여 형상분석 및 구조분석 장비이며 EDX를 이용하여 시료의 정성, 정량분석을 하는 장비이다. 나노사이즈의 입자크기, 박막두께, 구조분석 및 성분분석을 고배율로 확대하여 분석하고 바이오물질들의 형태 및 미세구조를 관찰하는 imaging 장비이다.
장비활용 polepiece type: HR
point resolution: 0.23nm
lattice resolution: 0.1nm
STEM image resolution: 0.2nm
Acc. Voltage: 160kV, 200kV
Electron source: ZrO/W(100) Schottky
Brightness: ≧4X108A/Cm2/sr
Magnification:
-TEM mode: X50 to X1.5M
-STEM mode: X20k to 150M
Spot size:
-TEM mode: 2 to 5nm
-NBD mode: 0.2 to 2.4nm
Specimen tilt angle: ±25 (α/β)
Specimen shift: 2mm(X/Y), ±0.1mm (Z)
Convergence angle: 1.5 to 20mrad
Acceptance angle: ±10°
이용안내
사용방법
담당자 정보
기관명 한국기초과학지원연구원 춘천센터
장비위치 강원대학교 집현관 101-1호
담당자 정명선, 최미리
전화번호 033-815-4605, 4613 팩스번호 033-255-7273
설치형태 고정
사용료 유형
장비 이용료
사용방법 온라인/전화

분류 광학
장비명 전계방출 투과전자현미경
영문명 Field Emission Transmission Electron Microscope
사용용도 분석 생산 시험
장비상태 정상 ○
모델명 JEM-2100F
제조관련 JEOL(일본) / 2011
내용연수 5년
구축일자 2011-06-30
구축금액 928865795
장비상세정보
장비사양:

전계방출 투과전자현미경(FE--TEM)은 전자빔을 조사하여 시료의 표면, 단면 등을 고배율로 확대하여 형상분석 및 구조분석 장비이며 EDX를 이용하여 시료의 정성, 정량분석을 하는 장비이다. 나노사이즈의 입자크기, 박막두께, 구조분석 및 성분분석을 고배율로 확대하여 분석하고 바이오물질들의 형태 및 미세구조를 관찰하는 imaging 장비이다.
장비활용:

polepiece type: HR
point resolution: 0.23nm
lattice resolution: 0.1nm
STEM image resolution: 0.2nm
Acc. Voltage: 160kV, 200kV
Electron source: ZrO/W(100) Schottky
Brightness: ≧4X108A/Cm2/sr
Magnification:
-TEM mode: X50 to X1.5M
-STEM mode: X20k to 150M
Spot size:
-TEM mode: 2 to 5nm
-NBD mode: 0.2 to 2.4nm
Specimen tilt angle: ±25 (α/β)
Specimen shift: 2mm(X/Y), ±0.1mm (Z)
Convergence angle: 1.5 to 20mrad
Acceptance angle: ±10°
이용안내
사용방법
설치형태 고정
사용료 유형
장비 이용료
신청방법 온라인/전화
설치장소 강원대학교 집현관 101-1호
담당자 정보
기관명 한국기초과학지원연구원 춘천센터
담당자 정명선, 최미리
전화번호 033-815-4605, 4613
팩스번호 033-255-7273
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